[敏感词]由ICT测试设备厂家28圈为各人分析ICT测试盲点的原因。?

1.当电阻与跳线并联时，无法丈量电阻

2.无法丈量与跳线并联的电感（或变压器，继电器）。

3.电感的谬误部门是跳线或短路，无法测试。

4.幼型电容器与幼型电阻器并联衔接，无法丈量幼型电容器。

5.电感与电阻器或电容器及其他组件并联衔接。电阻或其他组件无法丈量。

6.二极管以一样方向并联衔接，并且检测不到缺失的部件之一或空焊。

7.不能丈量与幼电阻并联组件并联的组件。

8.电容器的电容太幼，测试通常不正确。

9. IC，晶体振荡器，可调电阻器（VR），热敏电阻，浪涌吸收器和其他组件的内部机能无法丈量或无法正确测试。

10.二极管和晶体管与大电容器并联衔接，无法丈量二极管和晶体管。

11.组件的凹凸点在统一个短路组中，并且这些组件不成测试。

12.在IC空焊测试过程中，若是被测IC的引脚和电容器并联衔接，则该引脚若是断开则不能进行测试。

13.幼电容器与大电容器（C1 // C2）并联衔接，无法丈量幼电容器。通常来说，C2的电容是C1的10倍以上。C1是不成预测的。